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半导体分立器件测试系统

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最后更新: 2024-04-17 19:58
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公司基本资料信息
详细说明
系统概述

设备的扩展性强,通过选件可提高电流、电压以及测试品种的范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A。采用了脉冲测试法,脉冲宽度为300uS。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证测试结果准确可靠。

测试范围

ZY-2050A型

测试器件

二极管 / DIODE

绝缘栅双极大功率晶体管 / IGBT

晶体管 / NPN型/PNP型

MOS场效应管 / MOS-FET

J型场效应管 / J-FET

可控硅 / SCR

双向可控硅 / TRIAC

达林顿列阵 / DRALINTON

光电耦合 / OPTO-COUPLER

稳压、齐纳二极管 / ZENER

三端稳压器 / REGULATOR

双向触发二极管 / DIAC

硅触发可控硅 / STS

光电开关 / OPTO-SWITCH

光电逻辑 / OPTO-LOGIC

金属氧化物压变电阻 / MOV

固态过压保护器 / SSOVP

压变电阻 / VARISTOR

继电器 / RELAY

原文链接:http://www.loulei.cn/chanpin/6445.html,转载和复制请保留此链接。
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